scieee Science in your language
[en] (orig)

Kurz z oblasti metrologie a analýzy defektů - základy elektronové mikroskopie

Abstract

Electron microscopy basics. Elektronová mikroskopie je technika určená především pro získávání snímků s vysokým rozlišením pomocí urychleného elektronového paprsku k sondování zkoumaného vzorku. Po absolvování tohoto kurzu se seznámíte s pojmem rozlišení

Read accessible full text

Kurz z oblasti metrologie a analýzy defektů - základy elektronové mikroskopie

Author: Ondřej, Man; Kolíbalová, Eva
Publisher: VUT v Brně
Year: 2024
Source: https://dspace.vut.cz/bitstreams/5995422f-571d-479e-9958-8f435f95de1a/download
Popis přihlášení k ýs upu č. 25 – Ku z me ologie a analýzy de ek ů
Ku z z oblas i me ologie a analýzy de ek ů -
Elec on mic oscopy basics
(p o NPO MŠMT a VUT B ně)
Licence CC BY-SA
P o kon olu obsahu ku zů inanco aných z p ojek u NPO je řeba se přihlási do zdělá ací aplikace Moodle, kde byl zřízen manuální úče :
h ps://c moodle.cei ec. u b .cz/login/index.php?saml=o
use name: npo
heslo: NPOmsm 23. (pozo na ečku na konci)
V ámci oblas i ýs upu č. 25 - Ku z me ologie a analýzy de ek ů byl y ořen speciální ku z „Elec on mic oscopy basics“, k e ý je aplikaci Moodle umís ěn sekci „Use
sec ion / Gene al aining – Mic oscopy – L1 Elec on mikcoskopy basics“.